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2024-03

Na-N共掺p型ZnO薄膜

【基本信息】产品名称:Na-N共掺p型ZnO薄膜纯度:99.9%存储:-20℃冷藏、密封、避光保存时间:1年用途:仅用于科研,不能用于人体【详情描述】Na-N 共掺杂的 p 型氧化锌(ZnO)薄膜是一种半导体材料,通过掺杂钠(Na)和氮(N)元素,可

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2024-03

YIG薄膜

【基本信息】产品名称:YIG薄膜纯度:99.9%存储:-20℃冷藏、密封、避光保存时间:1年用途:仅用于科研,不能用于人体【详情描述】YIG(钇铁氧体,Yttrium Iron Garnet)薄膜是一种磁性材料,通常应用于微波和毫米波器件,如微波隔离

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2024-03

Mg掺杂氧化镓(Ga2O3)薄膜

【基本信息】中文名称:Mg掺杂的氧化镓薄膜英文名称:Mg-doped Ga2O3纯度:99.9%存储:-20℃冷藏、密封、避光保存时间:1年用途:仅用于科研,不能用于人体【详情描述】Mg掺杂的氧化镓(Mg-doped Ga2O3)薄膜是一种半导体材料

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2024-03

MgO/Au复合薄膜

【基本信息】产品名称:MgO/Au复合薄膜纯度:99.9%存储:-20℃冷藏、密封、避光保存时间:1年用途:仅用于科研,不能用于人体【详情描述】MgO/Au复合薄膜是由镁氧化物(MgO)和金(Au)层叠组成的薄膜结构,通常应用于磁性、光学或电学器件。

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2024-03

InGaZnO薄膜

【基本信息】产品名称:InGaZnO薄膜纯度:99.9%存储:-20℃冷藏、密封、避光保存时间:1年用途:仅用于科研,不能用于人体【详情描述】InGaZnO(Indium Gallium Zinc Oxide)薄膜是一种非晶态或多晶态氧化物半导体材料

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掺杂氟的SnO2薄膜(FTO)

【基本信息】中文名称:掺杂氟的SnO2薄膜英文名称:FTO纯度:99.9%存储:-20℃冷藏、密封、避光保存时间:1年用途:仅用于科研,不能用于人体【详情描述】掺杂氟的锡氧化物薄膜(FTO,Fluorine-doped Tin Oxide)是一种透明

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2024-03

镓钛共掺杂氧化锌半导体薄膜(GZO:Ti)

【基本信息】中文名称:镓钛共掺杂氧化锌半导体薄膜英文名称:GZO:Ti纯度:99.9%存储:-20℃冷藏、密封、避光保存时间:1年用途:仅用于科研,不能用于人体【详情描述】镓钛共掺杂氧化锌(GZO:Ti)薄膜是一种半导体材料,通常应用于透明导电膜、光

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MnZn铁氧体薄膜

【基本信息】产品名称:MnZn铁氧体薄膜纯度:99.9%存储:-20℃冷藏、密封、避光保存时间:1年用途:仅用于科研,不能用于人体【详情描述】MnZn铁氧体薄膜是一种由锰(Mn)、锌(Zn)和氧(O)元素组成的铁氧体材料,通常应用于磁性元件,如微波器

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Cu2SnS3薄膜

【基本信息】产品名称:Cu2SnS3薄膜纯度:99.9%存储:-20℃冷藏、密封、避光保存时间:1年用途:仅用于科研,不能用于人体【详情描述】Cu2SnS3薄膜是由铜(Cu)、锡(Sn)和硫(S)元素组成的化合物薄膜,通常应用于光伏器件,特别是薄膜太

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HfTaO薄膜

【基本信息】产品名称:HfTaO薄膜纯度:99.9%存储:-20℃冷藏、密封、避光保存时间:1年用途:仅用于科研,不能用于人体【详情描述】HfTaO薄膜是由铪(Hf)、钽(Ta)和氧(O)元素组成的化合物薄膜,通常应用于非挥发性存储器件、高介电常数薄

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